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發(fā)布時間：2022年09月28日 作者：德國GMC-I高美測儀（上海電勵士）
☆ 串I-V曲線測量
☆ 紅外測量
備注：通常情況第2類測試適用
于中大型電站系統(tǒng)抽樣測試，抽樣 比例需要和客戶事先商定
組串I-V曲線測量可獲得如下信息：
☆ 開路電壓Voc、短路電流Isc
☆ Vmpp、Impp、最大功率Pmax u方陣性能的測量值 u組件/組串填充系數(shù) u識別組件/陣列缺陷或遮光問題
備注：I-V曲線測試儀可同時轉(zhuǎn)換為STC狀態(tài)下的功率值，用于和銘牌標(biāo)稱值進行對比
☆ 確保待測組串和逆變器斷開
☆ 被測試組串應(yīng)該隔離并連接到I-V曲線測試設(shè)備。
☆ 根據(jù)被測試組件的特性、類型和數(shù)量對測試儀器進行設(shè)置。
☆ 與I-V 曲線測試儀相關(guān)的輻照度計應(yīng)安裝成與陣列平面匹配，并對其進行檢查以確保其不受任何局部遮光或反射光的影響。
☆ 在使用參考電池裝置的情況下，應(yīng)對其進行檢查，以確保其與被測陣列具有相同的電池技術(shù)，或者針對技術(shù)上的差異進行適當(dāng)?shù)男拚?nbsp;
☆ 測試結(jié)果轉(zhuǎn)換為STC狀態(tài)下的功率值
該測試主要著眼于陣列中的異常溫度變化，通常這些異常的溫度變化是各種故障造成：
☆ IR測試結(jié)果 – 組件熱斑
通常組件溫度應(yīng)相對均勻，無明顯溫差區(qū)域，但組件在接線盒周圍更熱，因為熱量不會被傳 導(dǎo)到周圍環(huán)境，另外組件在邊緣、標(biāo)簽、周邊和支撐處看到溫度梯度也是正常的。
☆ IR測試結(jié)果 - 旁路二極管
如果任何旁路二極管是熱的（打開的），檢查尋找明顯的原因，例如由于二極管保護的組件上的遮擋或碎片。如果沒有明顯的原因，可以懷疑是一個壞的組件。
☆ IR測試結(jié)果 - 電纜連接
組件之間的電線連接不應(yīng)顯著高于電線本身。如果連接更熱，請檢查連接是否松動或被腐蝕。
EC62446-1:2018版標(biāo)準(zhǔn)主要分兩部分：系統(tǒng)文檔要求和驗證要求
與2016版相比，系統(tǒng)文檔要求基本沒有變化，對驗證要求中測試細節(jié)做了優(yōu)化，例如對于測試結(jié)果的比對做了詳細說明并給出限值，增加1000v以上組件的絕緣電阻測試。
保留了2016版的附錄D，對于I-V曲線畸變的原因的判讀，有很高的參考意義
國內(nèi)針對IEC62446.1-2018版推出團體標(biāo)準(zhǔn)T/CPIA 0010，在IEC原版基礎(chǔ)上根據(jù)國情做了內(nèi)容上大幅度的增加，刪減，變更，可參考。
